通用高精度高速三维激光扫描测头XLP（第四代）
XLP系列三维激光扫描测头系统————为CyberOptics/LDI-Surveyor超高精度三维线激光扫描测量系统所搭配
长久以来被行业认可的最优秀的高速、高精度、高分辨率三维线激光扫描测头技术，现在可以轻松移植到传统三坐标测量机上了
更高的检测效率
- 扫描速度与上一代LDI激光测头相比提升70%
- 强大的Surveyor Scan Control (SSC)支持快速扫描编程
- 支持快捷扫描并提供点云检测软件插件
- 支持高速数据接口与CMM相连
更高的精度和分辨率
- 与上一代LDI激光测头相比，扫描精度提升50%
- 与上一代LDI激光测头相比，扫描分辨率提升30%
- 原厂NIST可溯源校准确保XLP扫描结果
多功能且应用广泛
- 采用先进的噪声抑制技术和三维滤波技术，可直接扫描大部分材质或颜色的表面
- 自动可编程三至六轴扫描控制和路径规划技术，实现高速三维扫描和零件扫描设置
- 多个型号可供选择，以适应小且多特征的样件或大型的汽车或航空零部件
开放的应用开发工具和接口支持
- 应用开发工具包含了必须的数据采集、缓存和轮廓测量结果
- 可为集成商提供基于PC开发环境的ActiveX控制、库函数和软硬件支持
技术参数
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XLP250 | XLP500 | XLP1000 |
| 测量距离 | |||
| 近 | 53 mm | 60 mm | 125 mm |
| 中 | 66 mm | 95 mm | 205 mm |
| 远 | 79 mm | 120 mm | 285 mm |
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| 景深 | 30 mm | 60 mm | 160 mm |
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| 扫描线长 | |||
| 近 | 23 mm | 40 mm | 56 mm |
| 中 | 25 mm | 50 mm | 86 mm |
| 远 | 29 mm | 60 mm | 115 mm |
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| 精度 | 6 μm | 12 μm | 24 μm |
| 重复性 | 6 μm | 12 μm | 24 μm |
| 分辨率（点间距） | 19 μm | 39 μm | 78 μm |
| 典型应用 | 小尺寸小特征 | 中小尺寸一般特征 | 中大尺寸样件 |
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| 采样率 | 1280 点/线，100Hz，即每秒128,000点 | ||
| 扫描测头重量 | 585 g | ||
| 扫描测头尺寸 | 131.17 x 93.5 x 44.398 mm | ||
| 最大入射角度 | 25° | ||
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| 激光功率 | 8 mw | ||
| 激光波长 | 658 nm | ||
| 防护等级 | IP65 | ||
| 使用环境温度 | 0ºC to 45ºC | ||
| 存储环境温度 | -20ºC to 70ºC | ||
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| 触发方式 | RS422 | ||
| 扫描控制软件 | Surveyor Scan Control (SSC) | ||
| 电磁兼容EMC | EN 61326-1:2006-10, DIN EN 55011: 2007-11 (Group 1, Class B) EN 61000-6-2: 2006-03 | ||
| 电源 | 11-30VDC, 24V, 500mA, IEEE 802.3af class2, Power over Ethernet | ||
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| CMM接口方式 | PH10M with Multiwire compatible, Renishaw ACR3 compatible, or Laser Wrist Portable arm compatible（支持关节臂） | ||
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| 兼容CMM控制器 | Renishaw (UCC2), Helmel, Zeiss C99L (Spectrum II)及部分PANTEC | ||
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| 兼容操作系统 | Windows 7 or Windows 10 PC | ||
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| 兼容第三方点云软件 | Geomagic Design X/Control X, Polyworks/Inspector, SPACECLAIM | ||
应用说明
自1981年创立以来， 美国 LDI 公司先后推出了 RPS、SLP 等系列行业高精度的三维激光扫描系统，先进的 SLP 系列三维激光扫描测头采用全固态激光和双接收器设计，保证了测头的可靠性和数据精度。SLP 激光扫描测头包括 SLP250、SLP500、SLP2000 等三个型号。新推出的 XLP 系列则采用了 LDI 公司新的噪声抑制技术和高速数据处理及接口，可以适应大部分反光表面的扫描，扫描效率提高 30% 以上，是目前市场上为数不多的新一代激光测头。
XLP/SLP 激光测头不仅可以与主流关节臂式测量机匹配，还可以用于大部分桥式高精度三坐标测量机匹配，其中旗舰产品 Surveyor-XS 系统集成了 LDI 高速高精度三维激光扫描测量技术及德国蔡司（Zeiss）三坐标测量机技术，是目前市场上高精度、高效率的快速尺寸测量方案。
LDI 激光扫描测量技术已经被 Apple、Schneider、HP、ITT、Seagate、Tyco、GE、iRobot、Philips、BRP、Caterpiller、德力西、华为、TCL 等众多著名品牌公司所采用。
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